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JJF 1760-2019 硅单晶电阻率标准样片校准规范
标准编号：JJF 1760-2019
标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范
英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity
发布日期：2019-09-27
实施日期：2020-03-27
归口单位：全国无线电计量技术委员会
起草人
高英（中国计量科学研究院）、李兰兰（中国计量科学研究院）、罗海燕（福建省计量科学研究院）、杨爱军（福建省计量科学研究院）
起草单位
中国计量科学研究院、福建省计量科学研究院
标准范围
本规范适用于电阻率在0.0030 Ω·cm ~ 10000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。