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GB/T 4937.1-2006 半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
标准编号：GB/T 4937.1-2006
标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
英文名称：Semiconductor devices―Mechanical and climatic test methods―Part 1: General
发布日期：2006-08-23
实施日期：2007-02-01
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草人
陈海蓉、崔波
起草单位
中国电子科技集团公司第十三研究所
标准范围
本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。 当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。