GB/T 30118-2013 声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

标准编号：GB/T 30118-2013

标准名称：声表面波（SAW）器件用单晶晶片规范与测量方法

英文名称：Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications―Specifications and measuring methods

发布日期：2013-12-17

实施日期：2014-05-15

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

执行单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

主管部门：工业和信息化部（电子）

起草人

张小梅、蒋春键、赵雄章、周洋舟、吴兆刚、吴剑波

起草单位

中国电子科技集团公司第二十六研究所、北京石晶光电科技有限公司、中国电子科技集团德清华莹电子有限公司

标准范围

本标准规定了人造石英、铌酸锂(LN)、钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片等。 本标准适用于人造石英、铌酸锂(LN),钽酸锂(LT)、四硼酸锂(LBO)和硅酸鎵镧(LGS)等单晶晶片。这些单晶晶片用作声表面波(SAW)滤波器和谐振器等基片材料。

标准文档截图