GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标准编号：GB/T 14849.5-2014

标准名称：工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal―Part 5：Determination of impurity contents―X-ray fluorescence method

发布日期：2014-12-05

实施日期：2015-05-01

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

执行单位：全国有色金属标准化技术委员会

主管部门：中国有色金属工业协会

起草人

刘英波、赵德平、杨毅、杨海岸、周杰

起草单位

昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司、蓝星硅材料有限公司、云南出入境检验检疫局、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、包头铝业有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司

标准范围

GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。 本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。

标准文档截图