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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
标准编号:GB/T 34504-2017
标准名称:蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法
英文名称:Measurement method for surface metal contamination on sapphire polished substrate wafer
发布日期:2017-10-14
实施日期:2018-05-01
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
执行单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草人
康森、宋岩岩、於震杰、邵峰、沈瞿欢
起草单位
天通控股股份有限公司
标准范围
本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。
本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在109atoms/cm2~1015atoms/cm2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。