YS/T 900-2024 高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

标准编号：YS/T 900-2024

标准名称：高纯钨化学分析方法 痕量杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法

英文名称：Method for chemical analysis of high purity tungsten-Determination of trace impurity elements content-Inductively coupled plasma mass spectrometry

发布日期：2024-10-24

实施日期：2025-05-01

提出单位：全国有色金属标准化技术委员会

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

墨淑敏、郑佳乐、李爱嫦、张殿凯、邱长丹、祝利红、李甜、顾续盛、周明俊、王瑞娟、栾剑乔、袁侨励、张媛媛、何剑文、鲍叶琳、李晓颖、孙梦荷、任树贵、王志清、冯浩、左鸿毅、李丹、曾云斌、王小龙、陈娜娜

起草单位

国标（北京）检验认证有限公司、国合通用（青岛）测试评价有限公司、广东省科学院工业分析检测中心、金川集团股份有限公司、宝钛集团有限公司、深圳市中金岭南有色金属股份有限公司韶关冶炼厂、有研亿金新材料有限公司、湖北绿钨资源循环有限公司、上海有色金属工业技术监测中心有限公司、北矿检测技术股份有限公司、安泰天龙钨钼科技有限公司、钢研纳克检测技术股份有限公司、湖南航天天麓新材料检测有限责任公司

标准范围

本文件规定了采用电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中痕量杂质元素含量的方法。

本文件适用于高纯钨中锂、铍、硼、镁、铝、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、镓、砷、锶、锆、钼、镉、锡、锑、铪、钽、铅和铋含量的测定。钙测定范围为0.0010%~0.010%，其余元素测定范围为0.0001%~0.010%。

标准文档截图