T/CSP 13-2024 颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜法

团体标准

标准编号：T/CSP 13-2024

标准名称：颗粒技术微纳米异质结构分析透射电子显微镜法

英文名称：Particulate technology—Analysis of sub-micron and nanometer heterostructure—Transmission electron microscopy

发布日期：2024-11-18

实施日期：2024-11-25

团体名称：中国颗粒学会

起草人

常怀秋;李婷;白露;杜志伟;齐笑迎;贾荣光;朱晓阳;韩小磊;车聪;高原;郎爽;毛璐;周素红

国家纳米科学中心;国标（北京）检验认证有限公司;国合通用测试评价认证股份公司;北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京理化分析测试中心）;中国颗粒学会;北京粉体技术协会

本文件描述了采用透射电子显微镜法对微纳米异质结构样品的形貌、成分及结构进行测量及分析的方法，包括原理、仪器设备、样品制备及步骤。

本文件适用于具有异质结构的微纳米尺度的粉体样品和薄膜样品，包含具有表面改性层、晶体界面层等微纳米异质结构材料的分析。