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ISO 19318:2004 表面化学分析 X-ray光电子光谱学-用于负荷控制和负荷修正的使用方法的报告
标准编号：ISO 19318:2004
中文名称：表面化学分析 X-ray光电子光谱学-用于负荷控制和负荷修正的使用方法的报告
英文名称：Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Reporting of methods used for charge control and charge correction
发布日期：2004-05
标准范围
ISO 19318:2004规定了通过X射线光电子能谱测量绝缘试样的芯层结合能时描述电荷控制和电荷校正方法的最低信息量，该信息量应与分析结果一起报告。还提供了在结合能测量中对电荷控制和电荷校正有用的方法的信息。
标准预览图
