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ISO 11505:2012 表面化学分析 辉光放电光学发射频谱法进行量化组成深度描述的一般规程
标准编号：ISO 11505:2012
中文名称：表面化学分析 辉光放电光学发射频谱法进行量化组成深度描述的一般规程
英文名称：Surface chemical analysis — General procedures for quantitative compositional depth profiling by glow discharge optical emission spectrometry
发布日期：2012-12
标准范围
ISO 11505:2013描述了辉光放电光发射光谱法（GD-OES）测定表层薄膜厚度、单位面积质量和化学成分的方法。它仅限于对GD-OES定量的一般程序的描述，不直接适用于具有各种厚度和待测定元素的单个材料的定量。
标准预览图
