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ISO 21222:2020 表面化学分析 扫描探针显微术 原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的方法
标准编号：ISO 21222:2020
中文名称：表面化学分析 扫描探针显微术 原子力显微镜和两点JKR法测定柔顺材料弹性模量的方法
英文名称：Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-point JKR method
发布日期：2020-01
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