立即下载标准文件- ISO/IEC 14776-412:2006 信息技术 小型计算机系统接口（SCSI） 第412部分：模型结构-2（SAM-2）
- ISO 132:2005 硫化或热塑橡胶 屈挠龟裂和龟裂增长的测定
- ISO 5707:2007 挤奶机设备 结构和性能
- ISO/IEC 27007:2020 信息安全、网络安全和隐私保护 信息安全管理系统审计指南
- ISO/IEC 30114-2:2018 信息技术 办公室开放XML文件格式的扩展 第2部分：字符集检查
- ISO 4120:2004 知觉分析 方法学 三角形试验
- ISO 12241:2008 建筑设备和工业装置的绝热 计算规则
- ISO 13766-2:2018 土方和建筑机械 内部电源的机械的电磁兼容性 第2部分：功能安全的附加电磁兼容性要求
- ISO 22969:2019 涂料和清漆 太阳反射率的测定
- ISO/PAS 28004-3:2012 供应链安全管理体系 ISO 28000实施指南 第3部分：中小业务采用ISO 28000的额外特定指南（海港除外）
ISO/TS 25138:2010 表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
标准编号：ISO/TS 25138:2010
中文名称：表面化学分析 辉光放电发射光谱法分析金属氧化物膜
英文名称：Surface chemical analysis — Analysis of metal oxide films by glow-discharge optical-emission spectrometry
发布日期：2010-12
标准范围
ISO/TS 25138:2010描述了一种辉光放电光发射光谱测定法，用于测定金属氧化物薄膜的厚度、单位面积质量和化学成分。该方法适用于金属表面1 nm至10 000 nm厚的氧化膜。氧化物中的金属元素可包括铁、铬、镍、铜、钛、硅、钼、锌、镁、锰和铝中的一种或多种。可通过该方法测定的其他元素为O、C、N、H、P和S。
标准预览图
