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ISO 22493:2008 微光束分析 扫描电子显微镜术 词汇表
标准编号：ISO 22493:2008
中文名称：微光束分析 扫描电子显微镜术 词汇表
英文名称：Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary
发布日期：2008-10
标准范围
ISO 22493:2008定义了扫描电子显微镜（SEM）实践中使用的术语。它涵盖了一般概念和具体概念，按照系统顺序按照其层次结构进行分类，并在适当的情况下包括ISO 23833中已经定义的术语。该词汇表适用于与SEM实践相关的所有标准化文件。此外，词汇表中的一些条款适用于与相关领域（如EPMA、AEM、EDS）相关的文件，以定义与这些领域相关的术语。
标准预览图
