立即下载标准文件- ISO 21432:2019 无损检验 用中子衍射法测定残余应力的标准试验方法
- ISO/TS 14907-1:2010 道路运输和交通远程信息管理 电子费用收缴 用户和固定设备试验程序 第1部分：试验程序描述
- ISO 7921:2024 眼科光学和仪器 近读图表
- ISO/IEC 20922:2016 信息技术 消息排列遥测传输（MQTT）v3.1.1
- ISO 16796:2022 核能 采用感应耦合等离子体源（ICP-AES）按原子发射光谱法测定钆燃料混合物和钆燃料粒子内的Gd<sub> 2</sub>O<sub>3</sub>含量
- ISO/IEC 30118-2:2021 信息技术 开放连接基础（OCF）规范 第2部分：安全规范
- ISO 14978:2006 电梯（升降机），自动梯和自动扶梯-风险评估和减少策略
- ISO 21070:2017 船舶与航海技术 航海环境保护 船上垃圾的管理和处理
- ISO 11979-2:1999 眼科植入物-眼内透镜-第二部分：光学性能及试验方法.
- ISO/IEC 14476-1:2002 信息技术-增强通信传输协议：单一多点传送规范
ISO 10110-7:2008 光学和光子学 光学元件和系统的制图准备 第7部分：表面缺陷公差
标准编号：ISO 10110-7:2008
中文名称：光学和光子学 光学元件和系统的制图准备 第7部分：表面缺陷公差
英文名称：Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 7: Surface imperfection tolerances
发布日期：2008-02
标准范围
ISO 10110-7:2008规定了单个光学元件和光学组件有效孔径内表面缺陷可接受程度的指示。这些缺陷包括局部表面缺陷、边缘缺口和长划痕。ISO 10110-7:2008适用于成品光学元件的透射面和反射面，无论其是否有涂层，以及光学组件。它承认，可根据部件或光学组件上缺陷影响的区域规定允许的缺陷。
标准预览图
