ISO 20804:2022 用小角度X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒系统的比表面积

标准编号：ISO 20804:2022

中文名称：用小角度X射线散射（SAXS）测定多孔和颗粒系统的比表面积

英文名称：Determination of the specific surface area of porous and particulate systems by small-angle X-ray scattering (SAXS)

发布日期：2022-05

标准范围

本文件规定了小角X射线散射（SAXS）在测定比表面积中的应用。质量比表面积均为1？m2g-1到2？000？m2g-1和体积比表面积在0.01？m2cm-3比1？000？可以得到m2cm-3。所描述的方法适用于稀释和浓缩系统。注:？在ISO？17867:2020，通过SAXS测定粒度仅限于稀释系统。仅对于两相系统，用SAXS确定表面是简单的。具有两个以上相的系统中的表面测定超出了本文档的范围。术语“表面”是指不同密度(更准确地说:电子密度)的域之间的任何界面，并且不限于颗粒的外表面。由于可以探测具有不同电子密度的区域之间的任何界面，不仅是空气或真空，因此该方法可以应用于任何异质系统。SAXS不仅测量开放孔隙的比表面积，还测量难以接近的封闭孔隙或夹杂物的比表面积。注:？这与ISO中描述的气体吸附方法相反？9277:2010.除了多孔系统之外，如果存在电子密度对比，内部界面可以对任何异质致密固体系统的测量比表面积做出贡献，例如在结晶相和无定形相之间。尽管包含微孔（孔宽？<？2？nm）的材料也可以用SAXS分析其比表面积，但本文档不涵盖这些材料。

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