ISO 23830:2008 表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱法中相对强度标度的重现性和恒定性

标准编号：ISO 23830:2008

中文名称：表面化学分析 二次离子质谱法 静态二次离子质谱法中相对强度标度的重现性和恒定性

英文名称：Surface chemical analysis — Secondary-ion mass spectrometry — Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry

发布日期：2008-11

标准范围

ISO 23830:2008规定了一种用于确认静态二次离子质谱仪正离子相对强度标度的重复性和稳定性的方法，用于一般分析目的。它只适用于装有电荷中和电子枪的仪器。它不是强度/质量响应函数的校准。该校准可由仪器制造商或其他组织进行。本方法提供的数据证实了相对强度与仪器使用的一致性。对可能影响这种稳定性的一些仪器设置给出了指导。

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