GB/T 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法

标准编号：GB/T 42968.3-2025

标准名称：集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法

英文名称：Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 3: Bulk current injection (BCI) method

发布日期：2025-12-02

实施日期：2025-12-02

提出单位：全国集成电路标准化技术委员会

归口单位：全国集成电路标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

付君、崔强、朱昨庆、叶畅、张红丽、邵伟恒、孙婧、梁吉明、张洁、杨志超、胡小军、王紫任、张颖、付国良、雷黎丽、朱赛、方文啸、邹广才、黄雪梅、王文杰、邢立文、李腾飞、周香、刘佳、兰德福、张高杰、易峰、薛涛

起草单位

中国电子技术标准化研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国汽车工程研究院股份有限公司、北汽福田汽车股份有限公司、国网电力科学研究院有限公司、中国合格评定国家认可中心、青岛市产品质量检验研究院、北京福测电子仪器有限公司、中家院（北京）检测认证有限公司、湖南进芯电子科技有限公司、北京国家新能源汽车技术创新中心有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、中山大学、南京容向测试设备有限公司、中汽研新能源汽车检验中心（天津）有限公司、东南大学、苏州泰思特电子科技有限公司、中国信息通信研究院、宇通客车股份有限公司、广州汽车集团股份有限公司汽车工程研究院、广州市爱浦电子科技有限公司

标准范围

本文件描述了在传导射频(RF)骚扰存在的情况下利用大电流注入(BCI)法测量集成电路(IC)抗扰度的试验方法，例如，由辐射RF骚扰引起的传导RF骚扰。这种方法仅用于有板外连线的IC，例如连接到电缆束。本试验方法把RF电流注入到一根或一组线缆。

本文件为设备中的半导体器件在无用RF电磁波环境下工作时的评估建立公共基础。

标准文档截图