GB/T 15651.13-2026 半导体器件 第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验

标准编号：GB/T 15651.13-2026

标准名称：半导体器件 第5-13部分：光电子器件 LED封装的硫化氢腐蚀试验

英文名称：Semiconductor devices—Part 5-13:Optoelectronic devices—Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages

发布日期：2026-02-27

实施日期：2026-06-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：工业和信息化部（电子）

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

杨旭东、张玉芹、许子愉、李宗涛、吕天刚、林凯旋、刘秀娟、吴杜雄、李俊凯、李家声

起草单位

中国电子技术标准化研究院、浙江智菱科技有限公司、杭州英诺维科技有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、广东省凯诺标准检测有限公司、华南理工大学、广州赛西标准检测研究院有限公司、广东金鉴实验室科技有限公司

标准范围

本文件为评价因硫化氢导致的发光二极管(LED)封装银和银合金变色提供了一种加速试验方法，目的是确定银和银合金变色对LED封装光通量和辐射通量维持率的影响提供相关信息。此外，该试验方法能够为LED封装的电性能因受到银和银合金腐蚀的影响提供相关信息。

试验的目的是确定硫化氢气体对LED封装材料的影响：银或银合金；有其他保护层的银或银合金；用银或银合金覆盖的金属。

本文件不包含因其他因素退化导致的光通量维持率、辐射通量维持率和电性能(例如，铜或硅酮部件的降解)变化。

本文件仅适用于照明应用的LED封装。/p>

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