GB/T 4937.41-2026 半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法

标准编号：GB/T 4937.41-2026

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第41部分：非易失性存储器可靠性试验方法

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41：Test method for reliability of non-volatile memory devices

发布日期：2026-02-27

实施日期：2026-09-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

常艳昭、宋国栋、张凯虹、王建超、顾玉娣、季伟伟、虞勇坚、吕栋、张猛华、奚留华、李秋枫、秦虎、张肖、颜佳辉、席善斌、张欢、陈鑫、吴大畏、李刚、徐中国、鲍斌、赖鼐、郭晓宇、解维坤、陈诚、韩先虎、冯佳、万永康、路金朋、印琴、杨霄垒、吴晨烨、郝香池、鹿祥宾、杨少华、李锟、戴志坚、张颖、廉鹏飞、付仲满、任秋萍、鲁鹏棋、左仲元、黄如金

起草单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海复旦微电子集团股份有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、河北北芯半导体科技有限公司、南京航空航天大学、华东师范大学、上海贝岭股份有限公司、浙江驰拓科技有限公司、珠海妙存科技有限公司、深圳市迈迪杰电子科技有限公司、无锡中微腾芯电子有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、电子科技大学、得一微电子股份有限公司、中国电子科技集团公司第三十二研究所、成都振芯科技股份有限公司、深圳市源微创新实业有限公司、中绍宣标准化服务（山东）有限公司

标准范围

本文件确立了非易失性存储器(以下简称“器件”)根据鉴定规范进行有效的耐久性、数据保持和交叉温度试验的程序。耐久性和数据保持鉴定规范鉴定要求(针对循环计数、保持时间、温度和样本量)参考JESD47或者类似JESD94中的方法。

标准文档截图