YD/T 6305-2024 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法

标准编号：YD/T 6305-2024

标准名称：安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法

英文名称：Technical requirements and test methods for non-invasive attack mitigation of security chip

发布日期：2024-12-10

实施日期：2025-04-01

提出单位：中国通信标准化协会

归口单位：中国通信标准化协会

批准发布部门：工业和信息化部

起草人

王安、魏淙洛、周文权、丁瑶玲、孙绍飞、张靖奇、祝烈煌、袁琦、张宏星、郑学欣、王剑、李强、徐秀、马聪、高思、张梦良、张小虎、张正、李正华、于鹏绅、姜海天、周永彬、刘月君、高宜文、李延、胡晓波、郑世慧、马向亮、刘献伦、刘为华、王宗岳、王竹萍、梅秋丽、梁承志、李广超、王新华、田东波、黄凯、胡之斐、周继华、郭智慧、李超、万晓兰、杨雪、刘铮、刘安女、王子瑜、钱宇晗、杨易明

起草单位

北京理工大学、中国信息通信研究院、华为技术有限公司、北京数缘科技有限公司、南京理工大学、北京智芯微电子科技有限公司、北京邮电大学、郑州信大捷安信息技术股份有限公司、深圳市纽创信安科技开发有限公司、数据通信科学技术研究所、中国信息通信科技集团有限公司、北京数字认证股份有限公司、北京中宇万通科技股份有限公司、鼎铉商用密码测评技术（深圳）有限公司、中兴通讯股份有限公司、蚂蚁科技集团股份有限公司、新华三技术有限公司

标准范围

本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法，包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等。

本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试，从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考。

标准文档截图