GB/Z 107-2025 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估

标准编号：GB/Z 107-2025

标准名称：半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估

英文名称：Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

发布日期：2025-12-03

实施日期：2025-12-03

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

万永康、何静、宋国栋、帅喆、张凯虹、李锟、李飞、常婷婷、虞勇坚、季伟伟、凌勇、印琴、贺致远、李德建、苏卡

起草单位

中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司、无锡中微腾芯电子有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、西安卫光科技有限公司

标准范围

本文件提供了一种性能评估存储单元的设计技术，以及使用该性能评估存储单元进行退化水平评估的方法。

本文件适用于半导体器件的退化状态监测和退化水平评估。评估半导体器件的退化水平，有助于提升系统可靠性。

标准文档截图