T/BDT 003-2024 高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备

团体标准

标准编号：T/BDT 003-2024

标准名称：高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备

英文名称：High-speed analog-to-digital converter（ADC）test equipment

发布日期：2024-10-09

实施日期：2024-10-10

团体名称：中国半导体行业协会

起草人

胡信伟;李翔;侯林;张宇;孙文彬;刘伟;高召;相宇阳;汤琦;周燕;张宏达;何睿;缪峰;顾宝龙

南京派格测控科技有限公司;南京国博电子股份有限公司;无锡卓海科技股份有限公司;宏晶微电子科技股份有限公司;无锡邑文电子科技有限公司;成都市易冲半导体有限公司;弥费科技（上海）股份有限公司;江苏宝浦莱半导体有限公司;深圳前沿标准技术服务有限公司

本文件规定了高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的产品分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。

本文件适用于高速模拟数字转换芯片（ADC）测试设备的设计、制造和检验。