ISO 25178-73:2019 几何产品规范（GPS） 表面纹理：面积 第73部分：材料测量表面缺陷的术语和定义

标准编号：ISO 25178-73:2019

中文名称：几何产品规范（GPS） 表面纹理：面积 第73部分：材料测量表面缺陷的术语和定义

英文名称：Geometrical product specifications (GPS) — Surface texture: Areal — Part 73: Terms and definitions for surface defects on material measures

发布日期：2019-05

标准范围

本文件定义了符合ISO 5436-1和ISO 25178-70的材料测量和校准样品表面可能存在的几何缺陷类别，并定义了应对这些缺陷的方法术语。本文件适用于以下情况:a） 在从制造商和供应商处获取材料时，帮助表面计量材料测量的客户和用户指定其标称特征（理想几何特性）；b） 使材料测量的使用者能够制定自己的规则和政策，以应对缺陷的发生，从而最大限度地减少自己测量的不确定性；注:ISO/IEC 17025:2017、7.2.1.1、7.2.1.3、7.3.1和7中要求此类政策。例如，8.5 c）和d）。c） 使校准实验室及其客户能够就如何处理已发送进行校准的材料测量的缺陷达成共识；d） 教育材料测量的使用者了解不同类型缺陷的不同意义和重要性；e） 对于其他GPS标准，涉及测量位置的选择，或测量中要测量或避免的区域的选择。

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