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ISO/TR 18392:2005 表面化学药品分析 X光光电子光谱学- -背景测定程序
标准编号:ISO/TR 18392:2005
中文名称:表面化学药品分析 X光光电子光谱学- -背景测定程序
英文名称:Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Procedures for determining backgrounds
发布日期:2005-12
标准范围
ISO/TR 18392:2005给出了确定X射线光电子光谱背景的指南。所述背景测定方法适用于评估固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子的光谱。
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