GB/T 46567.1-2025 智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性

标准编号：GB/T 46567.1-2025

标准名称：智能计算 忆阻器测试方法 第1部分：基础特性

英文名称：Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1：Basic characteristics

发布日期：2025-10-31

实施日期：2025-10-31

提出单位：全国智能计算标准化工作组

归口单位：全国智能计算标准化工作组

批准发布部门：国家标准委

起草人

时拓、王忠新、李磊、刘山佳、施阁、吴逊、王中强、李莹、张丽静、王斌强、孙文绚、徐海阳、李清江、张九六、黄旭辉、武晨希、李鹏飞、黄唯静、刘海连、罗联上、刘津畅、何水兵、王明、钟鑫、许晓欣、闫小兵、黄伟、王义楠、李祎、刘琦、杨彪、张乾、张宏巍、杨明、于双铭、孔维生、王小鹏、黄涛、陈永祥

起草单位

之江实验室、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国计量大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、河北大学、国防科技大学、浪潮电子信息产业股份有限公司、太原理工大学、中国科学院半导体研究所、山西太行实验室有限公司、浙江大华技术股份有限公司、北京万界数据科技有限责任公司、北京云之印科技有限公司、中国通信工业协会、浙江大学、中移（杭州）信息技术有限公司、复旦大学、中国科学院微电子研究所、东北师范大学、中国信息通信研究院、华中科技大学、宁波时识科技有限公司、杭州国磊半导体设备有限公司、天翼云科技有限公司、北京京瀚禹电子工程技术有限公司、超聚变数字技术有限公司、浙江省物联网产业协会

标准范围

本文件规定了忆阻器测试装置与环境条件要求，描述了忆阻器读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试方法，并规定了测试报告要求。

本文件适用于两端型双极性忆阻器的读、电预处理、增强和抑制等基础特性的测试。

标准文档截图