GB/T 4937.16-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）

标准编号：GB/T 4937.16-2025

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第16部分：粒子碰撞噪声检测（PIND）

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 16: Particle impact noise detection(PIND)

发布日期：2025-10-31

实施日期：2026-05-01

提出单位：工业和信息化部（电子）

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

席善斌、裴选、孙博、辛长林、王英程、裴晓波、宋玉玺、武立会、张嘉声、彭浩、何祥旺、许志钦、邱钰、张魁、刘玮

起草单位

中国电子科技集团公司第十三研究所、珠海市精实测控技术有限公司、安徽高芯众科半导体有限公司、广州翔声智能科技有限公司、广州海关技术中心、装备发展部军事代表局驻武汉地区军事代表室

标准范围

本文件描述了空腔器件内存在自由粒子的检测方法，如陶瓷碎片、残余键合引线或焊料球（金属颗粒）。

本试验是非破坏性试验。

标准文档截图