GB/T 47182-2026 微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

国家标准

标准编号：GB/T 47182-2026

标准名称：微束分析分析电子显微术核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

英文名称：Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining shell thickness of particles with core-shell structure

发布日期：2026-02-27

实施日期：2026-09-01

提出单位：全国微束分析标准化技术委员会

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

批准发布部门：国家标准委

起草人

权茂华、柳得橹、洪崧、马通达、贾荣光、任旭东

北京科技大学、包头稀土研究院、国标（北京）检验认证有限公司、北京化工大学

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度（10 nm~100 nm）的方法。

本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1 μm。

本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒，例如类似海胆状的纳米颗粒。