GB/T 4937.38-2025 半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

标准编号：GB/T 4937.38-2025

标准名称：半导体器件 机械和气候试验方法 第38部分：带存储的半导体器件的软错误试验方法

英文名称：Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory

发布日期：2025-12-02

实施日期：2026-07-01

提出单位：工业和信息化部

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

批准发布部门：工业和信息化部（电子）

起草人

雷志锋、彭超、张战刚、何凡、来萍、余银钢、黄云、何玉娟、付青琴、恩云飞、曹孙根

起草单位

工业和信息化部电子第五研究所、安徽一天电气技术股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、安徽钜芯半导体科技股份有限公司

标准范围

本文件描述了带存储的半导体器件工作在高能粒子环境下(如阿尔法辐射)的软错误敏感性的试验方法。本文件包含了两种试验方法，分别为利用阿尔法粒子辐射源的加速试验和自然辐射环境下(如阿尔法粒子或中子)导致错误的(非加速)实时系统试验。

为了全面表征带存储半导体器件的软错误特性，还需要依照其他试验方法开展宽能谱高能中子和热中子试验。

本试验方法适用于所有带存储的半导体器件。

标准文档截图